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电子焊接为什么要做可焊性测试?通过什么仪器去做检测?
2025-10-30
在电子制造的焊接环节,“看不见的隐患” 往往最致命 —— 元器件引脚轻微氧化、镀层厚度不足等问题,可能在生产时看似焊接正常,却在产品使用中引发虚焊、脱焊,最终导致设备故障甚至召回。可焊性测试正是提前规避这类风险的关键手段,而选对检测仪器则是确保测试有效的前提。本文将先拆解电子焊接必须做可焊性测试的核心原因,再详解检测仪器的类型与适配场景。
一、电子焊接为什么必须做可焊性测试?3 大核心价值不可替代
可焊性测试并非 “额外成本”,而是电子制造中 “性价比最高的质量投资”,其价值体现在风险预防、成本控制与工艺优化三个维度:
1. 提前拦截 “源头风险”,避免批量焊接故障
电子焊接的质量问题,70% 源于元器件可焊性不达标 ——
元器件存储不当:引脚长期暴露在空气中,易形成氧化层(如铜引脚氧化生成 CuO,可焊性急剧下降),焊接时焊料无法有效铺展,导致虚焊;
供应商工艺缺陷:镀层厚度不足(如镍镀层设计 8μm,实际仅 5μm)、镀层杂质超标,会导致焊料与引脚结合强度不足,后期使用中易脱焊;
物料混料风险:不同批次、不同规格的元器件混装,若未做可焊性测试,可能将低可焊性的元器件投入生产,引发批量不良。
可焊性测试能在元器件入库或生产前,通过模拟实际焊接环境,提前识别这些问题。例如某汽车电子厂曾通过测试发现一批连接器引脚氧化,及时拦截避免了 5000 块 ECU 主板的返工,直接挽回损失超 200 万元。
2. 降低 “隐性成本”,避免后期失效风险
若跳过可焊性测试,看似节省了测试费用,却可能面临更高的隐性成本:
生产返工成本:焊接不良的产品需人工补焊,不仅耗时(1 块主板补焊需 30 分钟以上),还可能因操作不当损坏元器件,返工成本是正常生产的 5-8 倍;
售后维修成本:产品出厂后因可焊性问题故障,需承担维修、退换货费用,若涉及汽车、医疗设备等领域,还可能面临客户索赔;
品牌声誉损失:频繁的质量问题会导致客户信任度下降,例如某消费电子品牌曾因手机充电接口虚焊(可焊性不达标导致),引发大规模投诉,品牌形象受损严重。
据行业数据统计,做可焊性测试的企业,焊接不良率平均比不做测试的企业低 80%,综合成本降低 30% 以上。
3. 优化焊接工艺,提升生产稳定性
可焊性测试不仅是 “质量筛查工具”,更是 “工艺优化助手”——
确定最佳焊接参数:通过测试不同温度、助焊剂类型下的可焊性数据,可找到最优工艺窗口。例如某 PCB 厂通过测试发现,将回流焊温度从 240℃提升至 245℃,元器件可焊性提升 25%,且无氧化风险;
验证新材料适配性:引入无铅锡膏、低温焊料等新材料时,可通过测试评估其与现有元器件的兼容性,避免盲目替换导致的工艺混乱;
监控生产过程稳定性:定期抽检生产中的元器件可焊性,可及时发现因环境变化(如车间湿度升高导致元器件氧化加速)引发的工艺波动,提前调整生产策略。
二、可焊性测试用什么仪器?3 类核心仪器及适配场景
可焊性测试的准确性,依赖于适配场景的检测仪器。根据电子制造的元器件类型、工艺需求,主流仪器可分为三大类,每类仪器的原理、优势与适用场景各有不同:
1. 润湿平衡法测试仪:最通用的 “基础款” 仪器
核心原理
通过将元器件引脚或焊盘浸入恒温熔融焊锡,实时测量焊料对样品的作用力变化,生成 “润湿曲线”,以 “零交叉时间”(焊料开始润湿的时间)、“最大润湿力”(焊料与样品的结合强度)作为可焊性判定指标 —— 零交叉时间越短、最大润湿力越大,可焊性越好。

优势与适用场景
优势:符合国际标准(IPC-J-STD-002),测试精度高(力值分辨率 0.003-0.01mN),能覆盖 80% 以上的常规元器件测试需求;
适用场景:
常规引脚类元器件(QFP、连接器、二极管)的来料检验与生产抽检;
波峰焊、回流焊工艺的常规焊接质量管控;
消费电子、汽车电子等对可焊性有基础要求的领域。
代表型号与技术特点:
Malcom SWB-2:基础款润湿平衡测试仪,恒温精度 ±0.5℃,支持焊锡槽平衡法,带中文触摸屏,操作简单,适合中小批量生产企业;
Rhesca 5200TN:高端款润湿平衡测试仪,力值分辨率 0.003mN,支持阶梯升温法(模拟回流焊多段温度),带 LAN 联网功能,适合汽车电子、高端消费电子等对精度要求高的领域。
2. 焊锡小球法测试仪:微型元器件 “专用款” 仪器
核心原理:
针对 BGA 焊球、01005 封装等微型元器件(引脚 / 焊球直径<0.3mm),传统焊锡槽会淹没样品,因此采用 “焊锡小球法”—— 将直径 0.3-0.5mm 的微型焊锡球置于样品表面,加热至焊接温度,通过光学或力学方式测量焊锡球的铺展面积、润湿角度,评估可焊性(铺展面积越大、润湿角度越小,可焊性越好)。
优势与适用场景:
优势:精准适配微型元器件,避免样品被焊料淹没,测试数据与微型焊点实际焊接效果的相关性达 95% 以上;
适用场景:
表面贴装元器件(SMD、BGA/CSP 焊球、01005/0201 封装)的可焊性测试;
半导体封装、智能手机等微型化产品的焊接质量管控;
细间距(<0.3mm)焊接工艺的研发与生产。
代表型号与技术特点:
Rhesca 5200TN(搭配微型焊锡球模块):可更换 0.3mm、0.5mm 规格焊锡球,支持光学成像与力学测量双重判定,适合研发与量产场景;
Malcom SWB-2(可选配小球测试附件):基础款小球测试功能,操作便捷,成本较低,适合中小批量微型元器件测试。

3. 氮气保护型测试仪:易氧化元器件 “防干扰款” 仪器
核心原理:
针对无铅镀层、铝电极、陶瓷基板等易氧化元器件,测试时空气中的氧气会导致样品表面快速氧化,影响测试数据准确性。氮气保护型测试仪通过在测试舱内充入高纯度氮气(纯度≥99.999%),将氧含量控制在<50ppm,模拟实际焊接中的防氧化环境,确保测试数据真实可靠。
优势与适用场景:
优势:隔绝氧气干扰,测试数据与易氧化元器件实际焊接效果一致性高,避免 “假阴性”(实际可焊性差但测试合格)或 “假阳性”(实际可焊性好但测试不合格);
适用场景:
无铅镀层(如无铅锡镍合金镀层)、铝电极、陶瓷基板等易氧化元器件;
航空航天、军工等对焊接可靠性要求极高的领域;
高湿度、高污染车间环境下的元器件测试。
代表型号与技术特点:
Rhesca 5200TN-N2:专业氮气保护测试仪,氧含量可实时监测,支持阶梯升温与焊锡小球法,适合高端领域;
Malcom SWB-2(定制氮气舱):基础款定制氮气保护功能,成本低于专业款,适合对防氧化有基础需求的企业。
三、仪器选型的 2 个关键原则:匹配需求,拒绝盲目
1. 按 “元器件类型 + 工艺需求” 选仪器
若测试常规引脚类元器件(如 QFP、连接器),且工艺为波峰焊 / 常规回流焊,选基础款润湿平衡测试仪(如 Malcom SWB-2)即可;
若测试微型元器件(如 BGA 焊球、01005 封装),选带焊锡小球模块的测试仪(如 Rhesca 5200TN);
若测试易氧化元器件(如无铅镀层、铝电极),选氮气保护型测试仪(如 Rhesca 5200TN-N2)。
2. 按 “生产规模 + 质量标准” 选配置
中小批量生产、消费电子领域:选基础款仪器,满足 “合格 / 不合格” 判定即可,控制成本;
大规模量产、汽车电子 / 医疗设备领域:选带数据联网、自动上样功能的高端款(如 Rhesca 5200TN),提升测试效率与数据追溯能力;
研发实验室:选带多模式(阶梯升温、小球测试)、数据分析功能的仪器,助力工艺优化。
总结:可焊性测试是电子焊接的 “质量安全阀”
电子焊接做可焊性测试,本质是通过 “提前检测” 规避 “后期风险”,既是质量管控的必要环节,也是成本控制的关键手段。而选对检测仪器,则是确保测试有效的前提 —— 无需盲目追求高端仪器,只需根据元器件类型、工艺需求、生产规模精准匹配,就能让可焊性测试真正发挥 “质量安全阀” 的作用,为电子产品的焊接可靠性保驾护航。
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